美国MAS超声电声法纳米粒度及ZETA电位分析仪科普

　　随着纳米技术和材料科学的发展，对颗粒尺寸、形态及其表面性质的研究变得尤为重要。美国MAS公司推出的超声电声法纳米粒度及ZETA电位分析仪，为科研人员提供了一种全新的测量手段。本文将对该分析仪的可测量参数及主要特点进行简要介绍。

　　可测量参数

　　该分析仪能够提供一系列关键参数的测量，包括但不限于：

　　粒度分布：评估颗粒大小的变化范围，有助于理解材料的均匀性。

　　固含量：测定溶液中固体颗粒的百分比，对控制产品质量至关重要。

　　Zeta电位：反映颗粒表面带电情况，影响颗粒间的聚集与分散行为。

　　等电点(IEP)：指颗粒表面电荷为零时的pH值，影响颗粒稳定性。

　　电导率：测量溶液传导电流的能力，与离子浓度相关。

　　pH值：表示溶液酸碱度，影响颗粒表面电荷状态。

　　温度：影响颗粒的行为和反应速率。

　　声衰减：评估介质吸收声波的能力，与颗粒浓度和粒径有关。

　　主要特点

　　多组分分析能力：能够同时分析多种分散物质的混合体，为复杂体系的研究提供了便利。

　　等电点测定：无需依赖双层理论模型，直接测定等电点，提供更准确的结果。

　　适应性强：适用于高导电性体系，拓宽了仪器的应用范围。

　　抗干扰性强：能够排除杂质的影响，减少样品污染对结果的影响。

　　无水体系测量：支持对无水环境中的样品进行测量，满足特定研究需求。

　　多频电声技术：采用多频电声方法测量Zeta电位，无需预先知道颗粒尺寸。

　　高浓度样品直接测量：允许对高达60%体积比的高浓度样品进行直接测量，避免了因稀释带来的误差。

　　自动滴定功能：具备自动电位滴定功能，简化了实验操作流程。

　　美国MAS超声电声法纳米粒度及ZETA电位分析仪以其技术优势，成为了研究纳米颗粒及其分散体系的重要工具。它不仅可以应用于基础科学研究，还能服务于工业生产过程中的质量控制，为新材料的研发与应用开辟了新的途径。